原位拉伸是**的機(jī)械測(cè)試系統(tǒng)，應(yīng)用于光學(xué)顯微鏡,掃描探針顯微鏡,掃描電子顯微鏡,X射線儀以及其它顯微鏡AFM原子力，采用**的編碼器得到能夠達(dá)到較高的精度，直接測(cè)量試驗(yàn)臺(tái)的軸向運(yùn)動(dòng)，消除絲杠、齒輪的誤差，采用一種沒(méi)有其它儀器可以對(duì)其校準(zhǔn)的，較為**的編碼系統(tǒng)

    制造廠家設(shè)定線性測(cè)量分辨率，每個(gè)脈沖分辨率范圍從1.22nm到5um，高分辨率的拉伸測(cè)量能力，能夠?qū)崿F(xiàn)非常低的拉伸速率，**的編碼器封裝技術(shù)使得試驗(yàn)臺(tái)體積非常小，可以放置于很小的系統(tǒng)中。

    SEM系列產(chǎn)品可以實(shí)現(xiàn)對(duì)各種材料進(jìn)行拉伸，壓縮，彎曲，蠕變和疲勞試驗(yàn)。可以在動(dòng)態(tài)或靜態(tài)載荷下觀察變形和松弛行為?？蛇x配樣品加熱器，用于測(cè)試過(guò)程中模擬實(shí)際的工作溫度條件?？蛇x多種試樣夾具，幾乎可以固定夾緊任何樣品配置。這種多樣性使SEM產(chǎn)品適用于非常廣泛的測(cè)試材料，

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